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阻抗分析儀與斷層成像
時(shí)間:2023-01-04瀏覽量：0
文章詳情
阻抗分析儀是一種電子測(cè)試儀器。它可以測(cè)量復(fù)數(shù)電阻隨測(cè)試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件，電子電路和元件材料的一個(gè)很重要的參數(shù)。另外，阻抗分析可以還被應(yīng)用到介電材料，比如生物組織，食品和地質(zhì)樣本中。它的原理是通過相敏檢測(cè)，同時(shí)測(cè)量器件在掃頻測(cè)試過程中的電流和電壓。阻抗分析儀的主要參數(shù)分別是頻率范圍，阻抗范圍，阻抗幅值的精度和相位精度。更進(jìn)一步的還包括測(cè)量速度，以及在測(cè)試中施加電壓或者電流偏置的功能。
阻抗分析儀測(cè)得的阻抗包含阻抗幅值，實(shí)部，虛部，以及由電壓和電流造成的相位(差)。根據(jù)等效電路模型，一些阻抗參數(shù)包括電導(dǎo)，電感和電容，即可被輕松的計(jì)算并顯示出來。阻抗分析儀一般能夠提供高精度的阻抗測(cè)量，比如0.05%的基本精度，從μHz到GHz的頻率范圍，從μΩ 到 TΩ的幅值范圍, 同時(shí)還有10 mdeg 的相位精度。與阻抗分析儀相比，LCR測(cè)試儀也提供了阻抗測(cè)量的功能。一般來說，它的精度比較接近阻抗分析儀，但是頻率范圍較低。同時(shí)，LCR測(cè)試儀只能測(cè)量固定頻率下的阻抗，不能掃頻，也不能圖形化顯示測(cè)量結(jié)果。
